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                  深圳市精诚仪器仪表有限公司

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                  盘点X光无损测厚仪的原理和特点
                  点击次数:48 发布时间:2022-03-08
                    X光无损测厚仪根据脉冲反射原理测量厚度。当探针发射的脉冲通过被测物体到达材料界面时,脉冲被反射回探针,通过精确测量材料中的传播时间来确定被测材料的厚度。各种可以匀速传播的物质都可以用这个原理来测量。
                    可以匀速传播的各种材料,如金属、塑料、陶瓷、玻璃等,都可以用这个原理来测量。它可以精确测量各种板材和加工零件。另一个重要的方面是,它可以监测生产设备中的各种管道和压力容器,并监测它们在使用中腐蚀后的减薄程度。
                    X光无损测厚仪是结合较优质技术的金属镀层X光无损测厚仪,具有结构先进,性能稳定可靠,功能齐全的特点。使用本仪器可以保障用户单位的产品质量,防止原材料的能源的浪费。利用本仪器还可以帮助用户找到适合不同要求的电镀工艺。
                    X光无损测厚仪的特点:
                    1.中、英文液晶显示,中、英文打印镀层种类、厚度、测试人员、日期,可选内部时钟万年历,无需每次设置。(英文界面需定购)
                    2.自动暂停测量提示更换电解液。
                    3.自动计算平均值。
                    4.打印多镀层报告。
                    5.测量配制电解液导电参数,提高测量精度,避免电解液电导致误差。
                    6.可测量多层镍厚度。
                    7.可调整终点电压,以抗干扰,适应镀层/基体之间的合金。
                    8.可以测量70种以上金属镀层基体组合,可以测量平面、曲面上的镀层,可以测量小零件、导线、线状零件。
                    9.除镀速度0.3-40μm/分钟可调。
                    10.带气泵循环搅拌。
                    11.钛合金电解杯不易腐蚀老化。
                    12、可调恒电流达到电解效率值。
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                  网站关键词:X光镀层测厚仪,x射线镀层测厚仪,X-RAY电镀膜厚仪,X光无损测厚仪,X射线测厚仪,X光电镀膜厚检测仪,韩国XRF-2000测厚仪
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