盘点X光无损测厚仪的原理和特点
点击次数：48 发布时间：2022-03-08
X光无损测厚仪根据脉冲反射原理测量厚度。当探针发射的脉冲通过被测物体到达材料界面时，脉冲被反射回探针，通过精确测量材料中的传播时间来确定被测材料的厚度。各种可以匀速传播的物质都可以用这个原理来测量。
可以匀速传播的各种材料，如金属、塑料、陶瓷、玻璃等，都可以用这个原理来测量。它可以精确测量各种板材和加工零件。另一个重要的方面是，它可以监测生产设备中的各种管道和压力容器，并监测它们在使用中腐蚀后的减薄程度。
X光无损测厚仪是结合较优质技术的金属镀层X光无损测厚仪，具有结构先进，性能稳定可靠，功能齐全的特点。使用本仪器可以保障用户单位的产品质量，防止原材料的能源的浪费。利用本仪器还可以帮助用户找到适合不同要求的电镀工艺。
X光无损测厚仪的特点：
1.中、英文液晶显示，中、英文打印镀层种类、厚度、测试人员、日期，可选内部时钟万年历，无需每次设置。(英文界面需定购)
2.自动暂停测量提示更换电解液。
3.自动计算平均值。
4.打印多镀层报告。
5.测量配制电解液导电参数，提高测量精度，避免电解液电导致误差。
6.可测量多层镍厚度。
7．可调整终点电压，以抗干扰，适应镀层/基体之间的合金。
8．可以测量70种以上金属镀层基体组合，可以测量平面、曲面上的镀层，可以测量小零件、导线、线状零件。
9．除镀速度0.3-40μm/分钟可调。
10．带气泵循环搅拌。
11．钛合金电解杯不易腐蚀老化。
12、可调恒电流达到电解效率值。
